一.控制圖的原理－波動(dòng)分布

 

　　控制圖觀點(diǎn)認(rèn)為：

 

　?。?）當(dāng)過程僅受隨機(jī)因素影響時(shí)，過程處于統(tǒng)計(jì)控制狀態(tài)（簡(jiǎn)稱受控狀態(tài)）；由于過程波動(dòng)具有統(tǒng)計(jì)規(guī)律性，當(dāng)過程受控時(shí)，過程特性一般服從穩(wěn)定的隨機(jī)分布；

 

　?。?）當(dāng)過程中存在系統(tǒng)因素的影響時(shí)，過程處于統(tǒng)計(jì)失控狀態(tài)（簡(jiǎn)稱失控狀態(tài)）。而失控時(shí)，過程分布將發(fā)生改變。

 

　　SPC正是利用過程波動(dòng)的統(tǒng)計(jì)規(guī)律性對(duì)過程進(jìn)行分析控制的。因而，它強(qiáng)調(diào)過程在受控和有能力的狀態(tài)下運(yùn)行，從而使產(chǎn)品和服務(wù)穩(wěn)定地滿足顧客的要求。

 

　 二.控制圖的原理－統(tǒng)計(jì)

 

　　受控狀態(tài)是生產(chǎn)過程追求的目標(biāo)，此時(shí)，對(duì)產(chǎn)品的質(zhì)量是有把握的?？刂茍D即是用來監(jiān)測(cè)生產(chǎn)過程狀態(tài)的一種有效工具。

 

　　控制圖的統(tǒng)計(jì)學(xué)原理，令W為度量某個(gè)質(zhì)量特性的統(tǒng)計(jì)樣本。假定W的均值為μ，而W的標(biāo)準(zhǔn)差為σ。于是，中心線、上控制限和下控制限分別為

 

　　UCL =μ +Kσ

 

　　CL =μ

 

　　LCL =μ －Kσ

 

　　式中，K為中心線與控制界限之間的標(biāo)準(zhǔn)差倍數(shù) ， Kσ表示間隔寬度。

 

　　正常情況下點(diǎn)子分布是正態(tài)的，落在控制界限之內(nèi)的概率遠(yuǎn)大于落在控制界限之外的概率。反之，若點(diǎn)子落在控制界限之外，可能是屬于正常情況下的小概率事件發(fā)生，也可能是過程異常發(fā)生，相對(duì)來講，后者發(fā)生的概率要大得多。因此，我們寧可以為后者情況發(fā)生，這正是控制圖的統(tǒng)計(jì)學(xué)原理。

 

　　點(diǎn)子落在控制界限之內(nèi)是否一定處于穩(wěn)態(tài)？點(diǎn)子落在控制界線之外是否一定出現(xiàn)異常？這兩個(gè)問題的回答都是否定的。

 

　　更為科學(xué)的判斷應(yīng)根據(jù)概率統(tǒng)計(jì)方法對(duì)過程進(jìn)行定量分析，精確計(jì)處出狀態(tài)的概率值之后再進(jìn)行過程狀態(tài)判斷。

 

　 三.控制圖的原理－分類1

 

 

  

 

　　各控制圖用途：

 

　　均值－極差控制圖: 是最常用、最基本的控制圖，它用于控制對(duì)象為長(zhǎng)度、重量、強(qiáng)度、純度、時(shí)間和生產(chǎn)量等計(jì)量值的場(chǎng)合。

 

　　均值－標(biāo)準(zhǔn)差控制圖: 次圖與上圖類似，極差計(jì)算簡(jiǎn)便，故R圖得到廣泛應(yīng)用，但當(dāng)樣本大小或0>10或12時(shí)，應(yīng)用極差估計(jì)總體標(biāo)準(zhǔn)差的效率減低，最好應(yīng)用S圖代替R圖。

 

　　中位數(shù)－極差控制圖: 由于中位數(shù)的計(jì)算比均值簡(jiǎn)單，所以多用于現(xiàn)場(chǎng)需要把測(cè)定數(shù)據(jù)直接記入控制圖進(jìn)行管理的場(chǎng)合。

 

　　均值－移動(dòng)極差控制圖: 多用于下列場(chǎng)合, (1)采用自動(dòng)化檢查和測(cè)量對(duì)每一個(gè)產(chǎn)品都進(jìn)行檢驗(yàn)的場(chǎng)合； (2)取樣費(fèi)時(shí)、昂貴的場(chǎng)合； (3)如化工等過程，樣品均勻，多抽樣也無太大意義的場(chǎng)合。由于它不像前三種控制圖那樣能取得較多的信息，所以它判斷過程變化的靈敏度也要差一些。

 

　　P控制圖：用于控制對(duì)象為不合格品率等計(jì)數(shù)值質(zhì)量指標(biāo)的場(chǎng)合。這里需要注意的是，在根據(jù)多種檢查項(xiàng)目總起來確定不合格品率的場(chǎng)合，當(dāng)控制圖顯示異常后難于找出異常的原因。因此，使用P圖時(shí)應(yīng)選擇重要的檢查項(xiàng)目作為判斷不合格品的依據(jù)。

 

　?。?）連續(xù)25個(gè)點(diǎn)都在控制限內(nèi)（顯著性水平為：0.0654）。

 

　?。?）連續(xù)35個(gè)點(diǎn)至多一個(gè)點(diǎn)落在控制限外（顯著性水平為：0.0041） 。

 

　?。?）連續(xù)100個(gè)點(diǎn)至多兩個(gè)點(diǎn)落在控制限外（顯著性水平為：0.0026） 。

 

　　Pn控制圖：用于控制對(duì)象為不合格品數(shù)的場(chǎng)合。設(shè)n為樣本大小，P為不合格品率，則Pn為不合格品個(gè)數(shù)。由于計(jì)算不合格品率需要進(jìn)行除法，比較麻煩。所以在樣本大小相同的情況下，用此圖比較方便。

 

　　C控制圖：用于控制一部機(jī)器、一個(gè)部件、一定的長(zhǎng)度、一定的面積或任何一定的單位中所出現(xiàn)的缺陷數(shù)目。例如，鑄件上的砂眼數(shù)，機(jī)器設(shè)備的故障數(shù)等等。

 

　　U控制圖：當(dāng)樣品的大小變化時(shí)應(yīng)換算成每單位的缺陷數(shù)并用U控制圖。

 

　　通用控制圖：

 

　 四.控制圖的原理－判穩(wěn)準(zhǔn)則

 

 

　 五.控制圖的原理－計(jì)量型穩(wěn)定

 

 

 

　 六.控制圖的原理－計(jì)數(shù)型不穩(wěn)定

 

 

 

      七.控制圖的原理－多變量型

 

 

 

　 八.控制圖的原理－分類2

 

　　分析用控制圖（判穩(wěn)）。

 

　　控制用控制圖（判異）。

 

　　聯(lián)系：分析用控制圖通過判穩(wěn)準(zhǔn)則分析過程的穩(wěn)定性，并得出過程的控制限應(yīng)用到控制用控制圖，通過判異準(zhǔn)則判斷/預(yù)測(cè)過程的穩(wěn)定性。

 

　 九.控制圖的原理－判異準(zhǔn)則

 

　　1.點(diǎn)在控制界限外或界限上。

 

　　2.排列不隨機(jī)：

 

 

 

　 十.控制圖的原理－判異準(zhǔn)則程序?qū)崿F(xiàn)示例